PID 絕緣測(cè)試儀(TOS7210S)是為準(zhǔn)確有效地對(duì)太陽(yáng)能電池模塊的 PID(Potential Induced Degradation) 現(xiàn)象進(jìn)行評(píng)估，以絕緣電阻測(cè)試儀(TOS7200)為基礎(chǔ)設(shè)計(jì)而成的測(cè)試儀。
附有極性切換功能，輸出電壓可達(dá) 2000V, 同時(shí)裝載了 nA 級(jí)分辨率的電流表，因此不只可以進(jìn)行 PID 評(píng)估，還可以用于要求進(jìn)行高敏感度測(cè)試的絕緣體評(píng)估測(cè)試。標(biāo)準(zhǔn)安裝了可從外部調(diào)用的面板存儲(chǔ)器及 RS232C 接口，因此也可以靈活對(duì)應(yīng)自動(dòng)化系統(tǒng)。
什么是PID現(xiàn)象？
PID 現(xiàn)象是指太陽(yáng)能電池與邊框長(zhǎng)期被施以高電壓，電池發(fā)電量顯著降低的現(xiàn)象。目前認(rèn)為所施加的電壓越高，越是在高溫、高濕的環(huán)境下劣化現(xiàn)象越嚴(yán)重。如晶體硅太陽(yáng)能電池模塊的輸出電壓即使只有數(shù)十 V，一旦直接連接的片數(shù)增加，串內(nèi)的電位差將變得非常高。一方面，PCS(Power Conditioning System)作為交流電源與系統(tǒng)相連, 使接地形態(tài)發(fā)生變化。輸入端采用浮接(一側(cè)電極不能接地線)的無(wú)變壓器方式近年有所增加。這種情況下電池和地線間將發(fā)生高電位差?，F(xiàn)在可明確的是，晶體硅太陽(yáng)能電池模塊中，相對(duì)于邊框(接地線)負(fù)極電位高的電池容易發(fā)生 PID 現(xiàn)象。(請(qǐng)參照?qǐng)D 1)目前，日本國(guó)內(nèi)以 Max 600V、歐洲以 max 1000V 的系統(tǒng)電壓運(yùn)行太陽(yáng)能電池模塊，但是目前出現(xiàn)了提高 Max 系統(tǒng)電壓以削減企業(yè)用大規(guī)模太陽(yáng)能發(fā)電系統(tǒng)的串?dāng)?shù)、PCS 總數(shù)，提高發(fā)電效率的趨勢(shì)。 圖2模擬了晶體硅太陽(yáng)能電池模塊的處于高電位差的狀況。邊框?yàn)檎龢O電位、模塊電路處于負(fù)極高電位的狀況。目前認(rèn)為是由于超白鋼化玻璃內(nèi)的鈉離子向電池側(cè)遷移而引起劣化。（薄膜太陽(yáng)能電池模塊也被確認(rèn)出現(xiàn)PID現(xiàn)象，但是發(fā)生劣化的機(jī)制與晶體硅太陽(yáng)能電池模塊不同。）現(xiàn)在，各種研究機(jī)構(gòu)正在通過研究、試驗(yàn)查找PID現(xiàn)象的原因。