電池的安全測(cè)試提供更優(yōu)化的檢測(cè)方案,通過波形分析提升電池的檢測(cè)品質(zhì)
了解更多 +全為新一代大容量電池提供高精度OCV/IR檢查
了解更多 +測(cè)量頻率4Hz-5MHz阻抗分析儀 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查 LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測(cè)量 基本精度±0.08%的高精度測(cè)量 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測(cè)量 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量 可以用于無線充電評(píng)價(jià)系統(tǒng)TS2400
了解更多 +可靠的產(chǎn)品3GHz 測(cè)試電壓測(cè)量頻率:1MHz~3GHz 測(cè)量時(shí)間:最快0.5ms(模擬測(cè)量時(shí)間) 測(cè)量值偏差:0.07%(用3GHz測(cè)量線圈1nH時(shí)) 基本精度:±0.65% rdg. 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小,測(cè)試頭尺寸僅手掌大小 豐富的接觸檢查(DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定) 分析模式下可以邊掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平邊進(jìn)行測(cè)量
了解更多 +高精度數(shù)字萬用表,7位半的直流電壓計(jì) 低價(jià)的基本型 1年精度20ppm[DM7275] 靜電電容式的接觸檢查 適用于全球生產(chǎn) 寬電源 EXT I/O、LAN、USB標(biāo)配
了解更多 +和測(cè)試儀組合使用可進(jìn)行多通道測(cè)量,最大264ch 可以進(jìn)行電壓計(jì)和電池測(cè)試儀切換并測(cè)量 最大264ch(2線)~72ch(4端子) 考慮到阻抗測(cè)量的回路設(shè)計(jì),減少測(cè)量誤差(影響量0.01%f.s.※1) ※ 1 BT4560 100mΩ量程、R測(cè)量、測(cè)量頻率1kHz時(shí) 適用于電池單元的OCV測(cè)量、內(nèi)部電阻測(cè)量、外部電位測(cè)量 還能測(cè)量電池模塊(最高DC 60V)
了解更多 +掃描模塊機(jī)架SW1001和測(cè)試儀組合使用,可進(jìn)行多通道測(cè)量,最大66ch 適用于電池測(cè)量,保證組合精度
了解更多 +用于電氣化學(xué)零件、材料/電池/EDLC的阻抗分析儀 適用于離子運(yùn)動(dòng)和溶液電阻測(cè)量,1mHz ~ 200kHz的寬范圍信號(hào)源 1臺(tái)機(jī)器即可實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、掃描測(cè)量的連續(xù)測(cè)量和高速檢查 可測(cè)量電池的無負(fù)載狀態(tài)產(chǎn)生的內(nèi)部電阻 最快2ms的高速測(cè)量,實(shí)現(xiàn)掃描測(cè)量的高速化 基本精度±0.05%,零件檢查到研究開發(fā)測(cè)量均可對(duì)應(yīng) 適用于Cole-Cole圖、等效電路分析等電器化學(xué)零件和材料的電阻(LCR)測(cè)量
了解更多 +可測(cè)量μΩ到MΩ的高精度便攜式微電阻計(jì) 基本精度0.02%,最小分辨率0.1μΩ,最大測(cè)試電流1A 可測(cè)范圍0.0μΩ(測(cè)試電流1A)~3.5MΩ 僅需將探頭接觸被測(cè)物,即可簡單記錄,最多1000個(gè)數(shù)據(jù) 通過間隔測(cè)量,可采集溫度上升實(shí)驗(yàn)中的數(shù)據(jù) 便攜式,適用于維修保養(yǎng)以及大型產(chǎn)品的檢查
了解更多 +1μΩ分辨率,適合產(chǎn)線的電阻計(jì) 基本精度0.02%,最小分辨率1μΩ,最大測(cè)試電流300mA 可測(cè)范圍0.000mμΩ(測(cè)試電流300mA)~3.5MΩ 通過保護(hù)端口使用的探頭并提高測(cè)試電流,實(shí)現(xiàn)抗干擾測(cè)量 使用比較判斷燈(選件)和大音量的判斷音,可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)準(zhǔn)確判斷合格與否 帶適合NPN/PNP的EXT I/O接口,可用于各種自動(dòng)產(chǎn)線中(-01)
了解更多 +適用于超、低分流時(shí)代的電阻計(jì) 自動(dòng)化系統(tǒng)中±0.16%的精度和0.01μΩ分辨率 反復(fù)測(cè)量精度高 提供高性能的接觸檢查功能,比較器功能和數(shù)據(jù)輸出功能 直觀的用戶接口,強(qiáng)抗干擾性,最適用于自動(dòng)一體化
了解更多 +適用于自動(dòng)設(shè)備的電阻計(jì)、可用于測(cè)量極小電子元件 通過施加電壓限制功能,檢查電壓可以改為5V以下 控制沖擊電流的接觸改善功能,支持測(cè)量極小元件 豐富的測(cè)量,確保檢測(cè)電壓,實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定測(cè)量 縮放功能能夠補(bǔ)償實(shí)裝狀態(tài)或檢查階段的偏差
了解更多 +最短測(cè)量時(shí)間0.9ms,適合自動(dòng)設(shè)備的高速電阻計(jì) 實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化系統(tǒng)中所要求的速度和高精度 雙重檢查功能保證準(zhǔn)確接觸,實(shí)現(xiàn)可靠性測(cè)試 可用于集成電路片電感器和EMC對(duì)應(yīng)零件的低能耗電阻測(cè)量 可用于制造工程中手動(dòng)的取樣檢查
了解更多 +測(cè)量頻率1kHz/120hz的C測(cè)試儀 高速測(cè)量2ms 能根據(jù)C 和D (損耗系數(shù)*2)的測(cè)量值,進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷 對(duì)應(yīng)測(cè)試線,比較器功能/觸發(fā)輸出功能 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試 3504-40記錄工具,實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤,提高成品率
了解更多 +測(cè)量頻率1MHz/1kHz的C測(cè)試儀 模擬測(cè)量時(shí)間0.6ms(1MHz)的高速測(cè)量 提高了抗干擾性,在產(chǎn)線的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度 1kHz、1MHz測(cè)量下,低電容的貼片時(shí)可穩(wěn)定測(cè)量 根據(jù)BIN的測(cè)定區(qū)分容量
了解更多 +用于測(cè)量鋰電池的高速電池測(cè)試儀 低頻AC-IR*測(cè)量,測(cè)量時(shí)間短 *使用1Hz以下的低頻測(cè)量內(nèi)阻的話不需要充放電 也能精確*測(cè)量低阻電池 *改善S/N比,在3mΩ量程下測(cè)試電流為1.5A 電路結(jié)構(gòu)較難受到接觸電阻和布線電阻的影響,實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定測(cè)量 同時(shí)測(cè)量阻抗和電壓 可靠的Li-ion電池判斷 僅需10秒
了解更多 +深圳總部:廣東省深圳市南山區(qū)留仙大道南山 云谷創(chuàng)新產(chǎn)業(yè)園二期6棟一樓東座
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